«Методы микроскопии высокого разрешения в исследованиях наноматериалов»

Преподаватели: доцент Галлямов М.О., профессор Яминский И.В.

Вопросы по спецкурсу «Методы микроскопии высокого разрешения в исследованиях наноматериалов»:

  1. Оптическая микроскопия: основные принципы, устройство микроскопа, освещение по Кёлеру, аберрации, дизайн и специфика объективов, разрешающая способность, оптический предел (теория Аббе), числовая апертура
  2. Оптическая микроскопия: микроскопия фазового контраста, принципы фазового контраста (Цернике), фазовый объект, фазовые пластинки
  3. Оптическая микроскопия: микроскопия темного поля, принципы
  4. Оптическая микроскопия: поляризационная микроскопия, принципы, (фазовые)пластинки / компенсаторы, типичные изображения и результаты
  5. Оптическая микроскопия: микроскопия дифференциально-интерференционного контраста, принципы, призмы Волластона
  6. Оптическая микроскопия: микроскопия модуляционного контраста, принципы, модулятор (метод Хоффмана)
  7. Оптическая микроскопия: флуоресцентная микроскопия, принципы, флуоресценция, ход лучей в ФМ, спектральные характеристики наборов фильтров и флуорофоров
  8. Оптическая микроскопия: лазерная сканирующая конфокальная микроскопия, принципы, конфокальная диафрагма, 3D сканирование объекта
  9. Оптическая микроскопия: лазерная сканирующая микроскопия, многофотонная схема, ее преимущества
  10. Оптическая микроскопия: 4π-микроскопия, принципы, разрешение
  11. Оптическая микроскопия: STED-микроскопия, принципы, разрешение, преодоление оптического предела
  12. Оптическая микроскопия: методы флуоресцентной наноскопии (RESOLFTs, GSD, SSIM / SPEM, STORM / PALM), общая концепция, сопоставление, разрешение, преодоление оптического предела
  13. Электронная микроскопия: сканирующая электронная микроскопия, принципы, взаимодействие первичных электронов с образцом, схема прибора и детекторы, вторичные электроны (типы), обратнорассеянные электроны
  14. Электронная микроскопия: аналитическая сканирующая электронная микроскопия, взаимодействие пучка электронов с атомами образца, принципы детектирования и детекторы рентгеновской спектроскопии, карты распределения элементов, дифракция обратнорассеянных электронов, карты ориентации кристаллитов
  15. Электронная микроскопия: прогресс в развитии методов сканирующей электронной микроскопии, термо- и автоэмиссионные катоды, аппаратная коррекция аберраций, секционирование фокусированными ионными пучками (внутренняя структура), низковакуумная микроскопия, исследования in situ
  16. Электронная микроскопия: приготовление образцов для сканирующей электронной микроскопии (сколы, травление, проблема зарядки)
  17. Электронная микроскопия: просвечивающая электронная микроскопия, принципы, построение изображений светлого поля, дифракция электронов, изображения темного поля
  18. Электронная микроскопия: аналитическая просвечивающая электронная микроскопия, принципы, взаимодействие пучка электронов с атомами образца, спектроскопия характеристических потерь энергии электронами, энергетически фильтруемая просвечивающая электронная микроскопия, карты распределения элементов
  19. Электронная микроскопия: прогресс в развитии методов просвечивающей электронной микроскопии, термо- и автоэмиссионные катоды, энергетические фильтры, аппаратная коррекция аберраций, методы фазового контраста (атомное разрешение), математический анализ изображений, реконструкция 3D структуры (SPA и томография), преимущества крио-ПЭМ (исследования в растворе), низковакуумная ПЭМ (динамика процессов), электронная голография
  20. Электронная микроскопия: приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии (травление, ультрамикротомия, контрастирование)
  21. Электронная микроскопия: сканирующая просвечивающая электронная микроскопия, принципы, детекторы, разрешение

Литература

Лекции